Committed to connecting the world

  •  
ITU GSR 2024

ITU-T Recommendations

Search by number:
Others:
Skip Navigation Links
Content search
Advanced search
Provisional name
Equivalent number
Formal description
Study Groups tree viewExpand Study Groups tree view

ITU-T P.501 (03/2017)

عربي | 中文 | English | Español | Français | Русский
إشارات الاختبار المستخدمة في قياس المهاتفة
تقدم التوصية ITU-T P.501 إشارات الاختبار التي تطبق لأغراض عديدة في القياسات من إشارات الاختبار قليلة التعقيد إلى إشارات الاختبار ذات الدرجات العالية من التعقيد والتي تضم الكثير من المعلمات النمطية للكلام. وإلى جانب الإشارات التقنية مثل الموجات الجيبية أو الضوضاء، يرد وصف المزيد من الإشارات التي تشبه الكلام. وتصف هذه التوصية مبادئ بناء الإشارة لكل نوع من أنواع إشارات الاختبار. وتعرض الخواص المميزة مثل طيف كثافة القدرة أو دالات كثافة الاحتمال أو استجابات المراشيح القائمة بتحديد الشكل. وتقدم هذه التوصية عرضاً مجملاً بشأن التطبيق النمطي لإشارات الاختبار الموصوفة. وهذا العرض يُعد بمثابة توجه يحدد القواعد العامة للتطبيق. بيد أن الوصف التفصيلي للتطبيق ينبغي الاطلاع عليه في التوصيات الفردية التي تشرح إجراءات القياس لكل تطبيق. ولتفادي المشكلات عند استنباط إشارات الاختبار الموصوفة، تتاح جميع إشارات الاختبار هذه للتحميل بالمجان من قاعدة بيانات إشارات الاختبار لقطاع تقييس الاتصالات. ويعرض الملحق A إشارتين للاختبار (تتابع pn مع معامل ذروة منخفض وموجة جيبية متعددة موزعة لوغاريتمياً) لقياس خسارة اقتران المطراف (TCL). ويعرض الملحق B ملفات كلام تتابعات ضوضاء تستعمل معاً في طرائق التقييم الموضعي لجودة الكلام. ولا تحل مواد الكلام هذه محل مواد الكلام الواردة في الإضافة 23 لسلسلة التوصيات P لقطاع تقييس الاتصالات. ويقدم التذييل I وصفاً للمعالجة المطبقة على إشارات الكلام الواردة في الفقرة 3.7.
Citation: https://handle.itu.int/11.1002/1000/13173
Series title: P series: Telephone transmission quality, telephone installations, local line networks
  P.500-P.599: Objective measuring apparatus
Approval date: 2017-03-01
Approval process:AAP
Status: Superseded
Maintenance responsibility: ITU-T Study Group 12
Further details: Patent statement(s)
Development history
Associated test signals