Rec. UIT-T K.28 (1991) – CARACTERÍSTICAS DE LAS UNIDADES DE SEMICONDUCTORES UTILIZADAS PARA LA PROTECCIÓN DE ...
PREFACIO
Prefacio
0 Introducción
1 Campo de aplicación
2 Definiciones
3 Requisitos ambientales
4 Requisitos eléctricos
    4.1 Limitación máxima de tensión
    4.2 Limitación mínima de tensión
    4.3 Resistencia de aislamiento
    4.4 Capacidad
    4.5 Reposición tras una onda de choque
    4.6 Variación de la corriente
    4.7 Pruebas de vida útil en presencia de sobrecorrientes
5 Métodos de prueba
    5.1 Limitación máxima de tensión (véase el § 4.1)
    5.2 Limitación mínima de tensión (véanse el § 4.2 y la figura 2/K.28)
    5.3 Resistencia de aislamiento (véase el § 4.3)
    5.4 Capacidad (véase el § 4.4)
    5.5 Reposición tras una onda de choque (véase el § 4.5)
    5.6 Rapidez de variación de la corriente (véanse el § 4.6 y la figura 3/K.28)
    5.7 Pruebas de vida útil en presencia de sobreintensidades (véanse el § 4.7 y la figura 4/K.28)
6 Requisitos mecánicos
    6.1 Duración mecánica
7 Alta temperatura
8 Requisitos generales de las pruebas
9 Identificación de las unidades
    9.1 Identificación de la tensión de funcionamiento
    9.2 Identificación del fabricante
    9.3 Identificación del cliente
10 Documentación
11 Informaciones que han de suministrarse con los pedidos
ANEXO A – Definición de las expresiones especiales utilizadas en esta Recomendación
A.1 protector de semiconductores (PS)
A.2 unidad PS (UPS)
APÉNDICE I