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• Rec. CCITT O.151 (11/1988) – APARATO DE MEDIDA DE LA CARACTERÍSTICA DE ERROR EN SISTEMAS DIGITALES CON UNA VELOCIDAD PRIMARIA Y SUPERIOR
• 1 Condiciones generales
• 2 Secuencias de prueba
  • 2.1 Secuencia seudoaleatoria para sistemas que emplean una secuencia de 215 - 1 bits de longitud
  • 2.2 Secuencia seudoaleatoria para sistemas que emplean una secuencia de 223 - 1 bits de longitud
  • 2.3 Secuencias seudoaleatorias para sistemas que emplean una longitud de una secuencia de 220 - 1 bits
  • 2.4 Secuencias fijas (facultativas)
• 3 Velocidad binaria
• 4 Interfaces
• 5 Gama de medida de la tasa de error
• 6 Modo de funcionamiento
• 7 Medida de los intervalos de tiempo con errores
• 8 Condiciones ambientales de funcionamiento
• Referencias