1
Alcance
2
Referencias
2.1 Referencias normativas
2.2 Referencias informativas
3
Definiciones
4
Abreviaturas,
siglas o acrónimos
5
Convenios
6
Diagrama
de bloques funcionales
7
Interfaces
7.1 Interfaces ópticas
7.2 Interfaces eléctricas
7.3 Entrada de la señal de reloj de
referencia externa
7.4 Sensibilidad de la interfaz de
entrada
8
Función
de generación de la fluctuación de fase/fluctuación lenta de fase
8.1 Fuente de modulación
8.2 Generador de señales de reloj
8.3 Generador de la secuencia de prueba
digital
8.4 Generador de secuencia de puntero
8.5 Requisitos mínimos de la generación
de fluctuación de fase/fluctuación lenta de fase
8.6 Precisión de la generación
9
Función
de medición de la fluctuación de fase
9.1 Señal de temporización de
referencia
9.2 Capacidades de medición
9.3 Anchura de banda de las mediciones
9.4 Precisión de las mediciones
9.5 Precisión de la medición de la
transferencia de fluctuación de fase
9.6 Facilidades adicionales
10 Función de medición de la
fluctuación lenta de fase
10.1 Señal de temporización de
referencia
10.2 Medición del error en el intervalo
de tiempo (TIE)
10.3 Medición del
error en el intervalo de tiempo (TIE) transitorio
10.4 Medición del máximo
error en el intervalo de tiempo (MTIE)
10.5 Medición de la desviación de tiempo
(TDEV)
10.6 Medición del desplazamiento de
frecuencia
10.7 Velocidad de deriva de frecuencia
11 Función de generación de ruido de
fluctuación lenta de fase de la TDEV
12 Función de
generación de ruido de fluctuación lenta de fase del MTIE
13 Ambiente de funcionamiento
Anexo A –
Señales de prueba estructuradas para la medición de la fluctuación de fase
A.1 Introducción
A.2 Estructura de las señales de prueba
para STM -N
A.3 Estructura de la señal de prueba
para señales STM-N concatenadas
Anexo B –
Definición de error de pendiente de fase cresta a cresta de banda limitada
Anexo C –
Límite superior del MTIE para el ruido de fluctuación lenta de fase de
la TDEV
Apéndice I
– Directrices relativas a la medición de la fluctuación de fase en
sistemas SDH
Apéndice II
– Directrices relativas a la medición de la fluctuación lenta de fase en
sistemas SDH
II.1 Mediciones de la fluctuación lenta
de fase
II.2 Mediciones de la estabilidad de la
señal de reloj
Apéndice
III – Directrices relativas a la generación de las secuencias de prueba de
puntero
Apéndice IV
– Respuesta de la función de medición de la fluctuación de fase total
IV.1 Introducción
IV.2 Parámetros del filtro de medición
IV.3 Límites de la plantilla para la
respuesta del filtro de medición paso alto
Apéndice V
– Verificación de los algoritmos de cálculo de MTIE y de TDEV
V.1 Descripción funcional de la fuente
de ruido de TIE
V.2 Primer ejemplo de generado de ruido
de TIE
V.3 Segundo ejemplo de generador de
ruido de TIE
Apéndice VI – Evaluación de la generación del MTIE
Apéndice
VII – Método de verificación de la precisión del resultado de las mediciones y
del error intrínseco fijo
VII.1 Descripción de la verificación y
aplicación de la misma
VII.2 Implementación del sistema
VII.3 Resultados e interpretación de los
mismos
Apéndice
VIII – Método de caracterización de la fluctuación de fase intrínseca del
transmisor
VIII.1 Descripción de la verificación y
aplicación de la misma
VIII.2 Método
VIII.3 Patrón de prueba de diagnóstico
VIII.4 Cálculo del valor cresta a cresta
de la función de distribución de probabilidad