1 Alcance
2
Referencias
3
Definiciones
4
Abreviaturas
5
Modos de medición y eventos que se han de supervisar
5.1 Definición de los modos de medición
5.2 Eventos que han de supervisarse
5.2.1 Eventos de red
5.2.2 Eventos relativos a la estructura de la
señal de prueba
5.3 Modos de medición fuera de servicio
5.3.1 Modo con transparencia de extremo a
extremo en contenedor de orden superior (C-4)
5.3.2 Modo con transparencia de extremo a
extremo en contenedor de orden superior (C-3)
5.3.3 Modo con transparencia de extremo a
extremo en contenedor de orden inferior (C-3)
5.3.4
Modo con transparencia de extremo a extremo en contenedor de orden
inferior (C‑11/C-12/C-2)
5.3.5 Modo con aplicación de afluente
plesiócrono en un contenedor de orden superior (C‑4)
5.3.6 Modo con correspondencia de afluente
plesiócrono en un contenedor de orden superior (C‑3)
5.3.7 Modo con correspondencia de afluente
plesiócrono en un contenedor de orden inferior (C-3)
5.3.8 Modo con correspondencia de afluente
plesiócrono en un contenedor de orden inferior (C‑11/C‑12/C-2)
5.3.9 Modo con transparencia de extremo a
extremo de estructuras concatenadas contiguas (VC‑2‑Xc y VC‑4‑Xc)
5.4 Modos de medición en servicio
5.4.1 Eventos que
han de supervisarse para una sección de regeneración STM-N
5.4.2 Eventos que han de supervisarse para una
sección múltiplex
5.4.3 Eventos que han de supervisarse para un
contenedor de orden superior (C-4)
5.4.4 Eventos que han de supervisarse para un
contenedor de orden superior (C-3)
5.4.5 Eventos que han de supervisarse para un
contenedor de orden inferior (C‑3)
5.4.6 Eventos que han de supervisarse para un
contenedor de orden inferior (C‑11/C‑12/C‑2)
5.4.7 Eventos que han de supervisarse para
estructuras concatenadas contiguas VC-2-Xc y VC-4-Xc
6
Generador
6.1 Sincronización del generador
6.2 Velocidades binarias
6.3 Estructuras de la señal de prueba
6.4 Salidas de señal digital
6.4.1 Interfaces digitales
6.4.2 Fluctuación de fase de salida
7
Receptor
7.1 Entradas de señal digital
7.1.1 Interfaces digitales
7.1.2 Tolerancia de fluctuación de fase de
entrada
7.1.3 Puntos de supervisión protegidos
7.2 Estructuras de la señal de prueba
7.3 Medición de la característica de error
7.3.1 Medición de la característica de error
utilizando solamente facilidades ISM
7.3.2 Medición de error que utiliza facilidades
ISM e información de secuencia de prueba
7.3.3 Utilización de los parámetros de calidad
de funcionamiento
7.3.4 Medición de error adicional
8
Funciones varias
8.1 Presentación visual
8.2 Adición de anomalías y defectos en la señal de salida
8.3 Indicación de error y alarma
8.4 Acceso a bytes de tara
8.5 Capacidad de demultiplexación
8.6 Indicación de fecha y hora de los eventos
8.7 Salida hacia
dispositivos de registro externos
8.8 Puerto de control a distancia
8.9 Interfaz TMN
8.10 Acceso a canales de comunicaciones de datos
9
Condiciones de funcionamiento
9.1 Condiciones ambientales
9.2 Comportamiento en caso de fallo de la alimentación de energía
Anexo A Criterios para la detección de anomalías y defectos
A.1 Anomalías relacionadas con las mediciones de calidad de
funcionamiento
A.1.1 Fuera de trama (OOF, out of frame)
A.1.2
Errores B1
A.1.3 Errores B2
A.1.4 Errores B3
A.1.5 Indicación de error distante de sección
múltiplex (MS‑REI)
A.1.6
Indicación de error distante en trayecto de orden superior (HP-REI)
A.1.7 Indicación de error distante en trayecto
de orden inferior (LP-REI)
A.1.8 Errores BIP-2
A.1.9 Error de secuencia de prueba (TSE)
A.2 Defectos relacionados con mediciones de calidad de
funcionamiento
A.2.1 Pérdida de la señal (LOS)
A.2.2 Pérdida de alineaciónde trama (LOF, less
of frame)
A.2.3
Desadaptación del identificador de traza de sección de regeneración (RS‑TIM)
A.2.4 Señal de indicación de alarma de sección
múltiplex (MS‑AIS)
A.2.5 Indicación de defecto distante de sección
múltiplex (MS‑RDI)
A.2.6 Pérdida de puntero de unidad
administrativa (AU‑LOP)
A.2.7 Señal de indicación de alarma de unidad
administrativa (AU‑AIS)
A.2.8 Indicación de defecto distante en
trayecto de orden superior (HP‑RDI)
A.2.9 Desadaptación del identificador de traza
de trayecto de orden superior (HP‑TIM, higher-order path trace
identifier mismatch)
A.2.10 Pérdida de multitrama de trayecto de
orden superior (HP‑LOM)
A.2.11 Pérdida de puntero de la unidad afluente
(TU‑LOP, tributary unit loss of pointer)
A.2.12 Señal de indicación de alarma de la
unidad afluente (TU‑AIS)
A.2.13 Indicación de defecto distante en
trayecto de orden inferior (LP‑RDI)
A.2.14 Desadaptación del identificador de traza
de trayecto de orden inferior (LP‑TIM, lower-order path trace
identifier mismatch)
A.2.15 Pérdida de sincronización de secuencia
(LSS)
A.3 Otros eventos no relacionados con la medición de calidad de
funcionamiento
A.3.1 Discordancia de cabida útil de trayecto
de orden superior (HP‑PLM)
A.3.2 Discordancia de cabida útil de trayecto
de orden inferior (LP‑PLM, lower-order path payload mismatch)
A.3.3 Trayecto de orden superior no equipado
(HP‑UNEQ)
A.3.4 Trayecto de orden inferior no equipado
(LP‑UNEQ)
A.3.5 Pérdida de entrada de temporización
A.3.6 Indicación de fallo distante de trayecto
de orden inferior (LP‑RFI, lower-order
path remote failure indication)
A.4 Otra información
A.4.1 Cuentas de justificación de puntero
(PJC+, PJC–, administrative unit pointer
justification events)
Anexo B Clasificación de indicaciones disponibles en la SDH
B.1 Indicaciones de anomalías y defectos
Anexo C Lista de estructuras de señal de prueba
C.1 Estructura de la
señal de prueba TSS1 aplicada a todos los bytes de un contenedor de orden
superior C‑4
C.2 Estructura de la señal de prueba TSS2 aplicada a todos
los bytes de un contenedor de orden superior C‑3
C.3 Estructura de la señal de prueba TSS3 aplicada a todos
los bytes de un contenedor de orden superior C‑3
C.4 Estructura de la señal de prueba TSS4 aplicada a todos los
bytes de contenedores de orden inferior (C‑2, C‑12, C‑11)
C.5 Estructura de la señal de prueba TSS5 aplicada a todos
los bits afluentes PDH con correspondencia en un contenedor C-4
C.6 Estructura de la señal de prueba TSS6 aplicada a todos
los bits afluentes PDH con correspondencia en un contenedor C-3 de orden superior
C.7 Estructura de la señal de prueba TSS7 aplicada a todos los
bits afluentes PDH con correspondencia en un contenedor C‑3 de
orden inferior
C.8 Estructura de la señal de prueba TSS8 aplicada a todos
los bits afluentes PDH con correspondencia en un contenedor (C‑2, C‑11,
C‑12) de orden inferior
C.9 Estructura de la señal de prueba aplicada a estructuras
concatenadas contiguas VC‑4‑Xc
C.10 Estructura de la señal de prueba aplicada a estructuras
concatenadas contiguas VC‑2‑Xc
Apéndice I Ejemplos de conexiones de equipos de
medición a elementos de red que
ilustran diferentes modos de medición fuera de servicio