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ITU-T K.94 (05/2012)

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融合终端设备的性能退化评估的相互干扰的试验方法
随着电信终端技术的迅速发展,市场上出现了越来越多的融合设备。由于融合设备模块紧密相连,如印刷电路板(PCB)设计不当,没有充足的接地、屏蔽或过滤,可在不同模块之间产生电磁兼容(EMC)干扰。ITU-T K.94建议书分析了融合终端设备中不同模块之间的EMC干扰并定义了测试方法。这种相互干扰测试可作为ITU-T K.34建议书和ITU-T K.48建议书列出的确定性能衰减水平的免疫测试项目之一。
Citation: https://handle.itu.int/11.1002/1000/11637
Series title: K series: Protection against interference
Approval date: 2012-05-29
Provisional name:K.deg
Approval process:AAP
Status: In force
Maintenance responsibility: ITU-T Study Group 5
Further details: Patent statement(s)
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