Documento :

UIT-T SG 15  (Periodo de estudios 2013)  Contribución  805

Título :

G.783 OSn/RSn_A_Sk defect correlations

Recibido en :

2014-11-04

Origen :

Altera Newfoundland Technology Centre (Altera NTC)

AI/Cuestión :

Q11/15

Reunión :

2014-11-24

Disponibilidad :

Restringido a usuarios de TIES [UIT-T]