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  Página principal : UIT-T : SG05 : Documentos Temporales (Reunión 2005-06-13) : 170-GEN Nuevo -  Busque los documentos de la reunión
   
[170-GEN]  Alignment of Test generator and Test circuits

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37376 octetos 2005-06-16 [170-GEN] 
 

Documento :

UIT-T SG05  (Periodo de estudios 2005)  Documento Temporale  170-GEN

Título :

Alignment of Test generator and Test circuits

Recibido en :

2005-06-16

Origen :

Rapporteur for Q4/5

AI/Cuestión :

Q4/5, Q5/5

Disponibilidad :

Restringido a usuarios de TIES [UIT-T]
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Actualizado el : 2005-06-16