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  Página principal : UIT-T : SG16 : Documentos Temporales (Reunión 2006-11-14) : 175-WP3 Nuevo -  Busque los documentos de la reunión
   
[175-WP3]  Quality Assessment Test Plan for ITU-T G.722 PLC selection phase

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1178112 octetos 2006-10-27 [175-WP3] 

Zip (Document)  

173331 octetos 2006-10-27 [175-WP3] 
 

Documento :

UIT-T SG16  (Periodo de estudios 2005)  Documento Temporale  175-WP3

Título :

Quality Assessment Test Plan for ITU-T G.722 PLC selection phase

Recibido en :

2006-10-27

Origen :

Rapporteur Q10/16

AI/Cuestión :

Q10/16

Disponibilidad :

Restringido a usuarios de TIES [UIT-T]

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Actualizado el : 2006-10-27