Documento :

UIT-T SG 5  (Periodo de estudios 2017)  Documento Temporale  533-GEN

Título :

A.1 justification for a new work item on K.reflection - "Impact of the metallic structures for the EMF exposure level"

Recibido en :

2018-05-22

Origen :

Rapporteur Q3/5

AI/Cuestión :

Q3/5

Disponibilidad :

Restringido a usuarios de TIES [UIT-T]