Documento :

UIT-T SG 5  (Periodo de estudios 2017)  Contribución  666

Título :

K.Eth: Ethernet port resistibility testing for overvoltages and overcurrents

Recibido en :

2020-04-28

Origen :

Bourns Limited (United Kingdom)

AI/Cuestión :

Q2/5

Reunión :

2020-05-11

Disponibilidad :

Restringido a usuarios de TIES [UIT-T]