Documento :

UIT-T SG 12  (Periodo de estudios 2017)  Contribución  232

Título :

Evolution of LTE circuit switched fallback: impact on quality of experience (QoE) and quality of service (QoS)

Recibido en :

2018-10-03

Origen :

Ministère des Postes et Télécommunications, chargé de la Promotion des Nouvelles Technologies d'Information et de Communication (Central African Rep.)

AI/Cuestión :

Q12/12

Reunión :

2018-11-27

Disponibilidad :

Restringido a usuarios de TIES [UIT-T]