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[745]  ITU-T Rec. K.147 (06/2020) Ethernet port resistibility testing for overvoltages and overcurrents

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Mise à disposition

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Word  

4661750 octets 2021-03-31 [745] Addendum 1

Word  

4664325 octets 2021-04-08 [745] Revision 1

Zip (Document)  

8643935 octets 2021-03-17 [745] 
 

Document :

UIT-T SG 5  (Période d'études 2017)  Contribution  745

Titre :

ITU-T Rec. K.147 (06/2020) Ethernet port resistibility testing for overvoltages and overcurrents

Reçu le :

2021-03-16

Source :

IEEE (IEEE 802.3)

AI/Question :

Q2/5

Réunion :

2021-05-11

Disponibilité :

Réservé aux utilisateurs TIES [UIT-T]

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Mis à jour le : 2021-04-08