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[170-GEN]  Alignment of Test generator and Test circuits

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Mise à disposition

English

Word  

37376 octets 2005-06-16 [170-GEN] 
 

Document :

UIT-T SG05  (Période d'études 2005)  Document Temporaire  170-GEN

Titre :

Alignment of Test generator and Test circuits

Reçu le :

2005-06-16

Source :

Rapporteur for Q4/5

AI/Question :

Q4/5, Q5/5

Disponibilité :

Réservé aux utilisateurs TIES [UIT-T]
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Mis à jour le : 2005-06-16