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[256-GEN]  Alignment of Test generator and Test circuits

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Mise à disposition

English

Word  

38400 octets 2005-12-15 [256-GEN] 
 

Document :

UIT-T SG05  (Période d'études 2005)  Document Temporaire  256-GEN

Titre :

Alignment of Test generator and Test circuits

Reçu le :

2005-12-15

Source :

ITU-T SG5

AI/Question :

Q13/5, Q4/5, Q5/5

Disponibilité :

Réservé aux utilisateurs TIES [UIT-T]
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Mis à jour le : 2005-12-15