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[212-WP3]  G.729-VAD-Layer: Characterization phase processing test plan

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Mise à disposition

English

Word  

152064 octets 2011-08-04 [212-WP3] 
 

Document :

UIT-T SG 16  (Période d'études 2009)  Document Temporaire  212-WP3

Titre :

G.729-VAD-Layer: Characterization phase processing test plan

Reçu le :

2011-08-04

Source :

Rapporteur Q10/16

AI/Question :

Q10/16

Disponibilité :

Réservé aux utilisateurs TIES [UIT-T]
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Mis à jour le : 2011-08-04