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[169]  Assessment of the LTE circuit switched fall back - impact on QoE and QoS

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Word  

90046 octets 2018-04-19 [169] 
 

Document :

UIT-T SG 12  (Période d'études 2017)  Contribution  169

Titre :

Assessment of the LTE circuit switched fall back - impact on QoE and QoS

Reçu le :

2018-04-16

Source :

CommProve Technologies SpA

AI/Question :

Q12/12

Réunion :

2018-05-01

Disponibilité :

Réservé aux utilisateurs TIES [UIT-T]

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Mis à jour le : 2018-04-19