Document :

UIT-T SG 12  (Période d'études 2017)  Contribution  232

Titre :

Evolution du repli du circuit LTE commuté-impact sur la qualité d'Expérience (QoE) et la qualité de service(QoS)

Reçu le :

2018-10-03

Source :

Ministère des Postes et Télécommunications, chargé de la Promotion des Nouvelles Technologies d'Information et de Communication (Central African Rep.)

AI/Question :

Q12/12

Réunion :

2018-11-27

Disponibilité :

Réservé aux utilisateurs TIES [UIT-T]